硅片檢測顯微鏡

產品簡介
硅片檢測顯微鏡操作簡便，附件齊全，應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。

產品型號：IE200M

廠商性質：生產廠家

訪問量：1847

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

實驗檢測儀器

表面3D輪廓儀三維光學形貌儀材料試驗機光學軸類測量儀超景深三維顯微鏡粗糙度測量儀共面性測試儀接觸角測定儀一鍵式快速測量儀精密測量投影儀 CNC全自動影像儀 3D三坐標測量機快速尺寸測量儀測量金相顯微鏡刀具投影測量儀金相光學顯微鏡磨刀機顯微鏡測量分析顯微鏡視頻測量顯微鏡金屬材料顯微鏡高倍金相顯微鏡光學輪廓顯微鏡水滴角界面測量儀界面張力測量儀超低界面張力儀平面度測試儀臥式影像測量儀精密影像測量儀

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硅片檢測顯微鏡

高精度粗微動調焦機構

采用底手位粗微調同軸調焦機構，左右側均可調節(jié)，微調精度高，手動調節(jié)簡單方便，用戶能夠輕松得到清晰舒適的圖像。粗調行程為38mm，微調精度0.002。

大尺寸機械移動平臺

采用180×155mm的大尺寸平臺，右手位設置，符合常規(guī)人群操作習慣。用戶操作過程中，便于調焦機構與平臺移動的操作切換，為用戶提供更加高效的工作環(huán)境。

落射柯拉照明系統(tǒng)

硅片檢測顯微鏡參數

光學系統(tǒng)

有限遠色差光學系統(tǒng)

觀察筒

45°傾斜，三目觀察筒，瞳距調節(jié)范圍:54-75mm，分光比：80:20

目鏡

高眼點大視野平場目鏡PL10X/18mm，可帶測微尺

高眼點大視野目鏡WF15X/13mm，可帶測微尺

高眼點大視野目鏡WF20X/10mm，可帶測微尺

物鏡

長工作距平場消色差金相物鏡（5X、10X、20X、50X 、100X）

轉換器

內定位四孔轉換器

內定位五孔轉換器

調焦機構

低手位粗微調同軸調焦機構，粗動每轉行程38 mm；微調精度0.02mm

載物臺

三層機械移動平臺，面積180mmX155mm，右手低手位控制，行程：75mm×40mm

落射照明系統(tǒng)

落射式柯拉照明系統(tǒng)，帶可變孔徑光欄和中心可調視場光欄，自適應寬電壓100V-240V，單顆5W 暖色LED燈，光強連續(xù)可調

落射式柯拉照明系統(tǒng)，帶可變孔徑光欄和中心可調視場光欄，自適應寬電壓100V-240V，6V30W鹵素燈，光強連續(xù)可調

攝影攝像

0.5X/1X攝像接筒，C型接口，可調焦

其他

起偏鏡插板，固定式檢偏鏡插板，360°旋轉式檢偏鏡插板；濾色片組；高精度測微尺

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